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紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度的影響因素：
　　(1)灰塵
　　濾光片或光學(xué)元件上的灰塵會產(chǎn)生散射，從而引起基線平直度變壞。
　　(2)濾光片未安裝好
　　因?yàn)椴煌ǘ我捎貌煌臑V光片，所以濾光片切換時(shí)會產(chǎn)生噪聲，使基線平直度變壞。
　　(3)光源（氘燈、鎢燈）切換
　　光源（氘燈、鎢燈）切換時(shí)產(chǎn)生的噪聲，一般在340～360nm左右出現(xiàn)，從而使基線平直度變壞。
　　(4)測試時(shí)掃描速度太快
　　基線平直度測試時(shí)掃描速度太快，也會使基線平直度變壞。上約定，在測試紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度時(shí)，掃描速度都用慢速。
　　(5)電子學(xué)方面的噪聲過大
　　電子學(xué)方面的噪聲過大，也會直接影響基線平直度，特別是放大器和光電轉(zhuǎn)換元件的噪聲，對基線平直度的影響更大。
　　(6)光學(xué)部分未調(diào)整好
　　光學(xué)部分未調(diào)整好，特別是單色器的光路未調(diào)整好，會使信號減小，信噪比變小，使基線平直度變壞。
　　(7)環(huán)境因素
　　如果周圍環(huán)境有振動、電場干擾、磁場干擾、電壓不穩(wěn)等，都會使基線平直度變壞。